Презентация на тему: Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов

Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов
1/24
Средняя оценка: 4.2/5 (всего оценок: 46)
Код скопирован в буфер обмена
Скачать (3225 Кб)
1

Первый слайд презентации

Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов

Изображение слайда
2

Слайд 2

ПРИБОРЫ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДАВЛЕНИЯ - ВАКУУММЕТРЫ

Изображение слайда
3

Слайд 3

Деформационный вакуумметр сечение сечение

Изображение слайда
4

Слайд 4

Термопарный вакуумметр

Изображение слайда
5

Слайд 5

Принцип действия электронного вакууметра (преобразователя) основан на прямой пропорциональности между давлением и ионным током, образовавшимся в результате ионизации термоэлектронами остаточных газов. Ионизационный вакуумметр

Изображение слайда
6

Слайд 6

а) ячейка Пеннинга; б) магнетронная; в) инверсно-агнетронная; 1 — катоды; 2 — аноды Относительная чувствительность преобразователей Электронные системы магнитных преобразователей

Изображение слайда
7

Слайд 7

Магнитный Масс-спектроментр

Изображение слайда
8

Слайд 8

Магнитный Масс-спектроментр

Изображение слайда
9

Слайд 9

E e = E i = 10 В Ионный источник

Изображение слайда
10

Слайд 10

Времяпролетный МС v= 2eU/m t= d/v =d(m/2eU) 1/2 U t d

Изображение слайда
11

Слайд 11

Квадрупольный масс-спектрометр U = U = + V ≈ Cos w t Разрешение в масс-спектре: D M /M = Const, D M <1, при М < 100 Ионизация атомов газа Фильтр масс ионов Детектор ионов

Изображение слайда
12

Слайд 12

Квадрупольный масс-спектрометр

Изображение слайда
13

Слайд 13

ПРИНЦИПИАЛЬНАЯ СХЕМА МОНОПОЛЯРНОГО МАСС-СПЕКТРОМЕТРА

Изображение слайда
14

Слайд 14

Умножитель вторичных электронов (фотонов)

Изображение слайда
15

Слайд 15

Канальный ВЭУ

Изображение слайда
16

Слайд 16

Канальный ВЭУ

Изображение слайда
17

Слайд 17

Относительные интенсивности линий чистых газов в МС

Изображение слайда
18

Слайд 18

Типичный спектр монополярного масс-спектрометра ( P=2x10 -10 Торр)

Изображение слайда
19

Слайд 19

10 -17 Методы течеискания

Изображение слайда
20

Слайд 20

Ионная пушка P =10 -5 Тор P =10 - 9 Тор

Изображение слайда
21

Слайд 21

Масс-спектрометрия вторичных ионов ( SIMS ) Разрушение поверхности образца дает послойный анализ в глубину. Сканирующий пучок ионов – ионные микроскопы дают на дисплее визуальное изображение состава поверхности !

Изображение слайда
22

Слайд 22

Эксперимента установка ИОФАН, к. 413 MS Ion gun AES STM “GPI - 300” LEED gas inlets Sample holders STM, LEED-chamber Analytical chamber Introduct. chamb. Cu, Ag, Au-evaporation cells P base =8x10 -11 Торр Q = 0, 1 МС / мин

Изображение слайда
23

Слайд 23

Трех- камерная СВВ установка (ИОФ РАН, корп 1, к.413)

Изображение слайда
24

Последний слайд презентации: Вакууметры, Масс-спектрометрия, течеискание, МС - вторичных ионов

Литература. Уэстон Дж. Техника сверхвысокого вакуума. – М.: Мир, 1988. Розанов Л.Н. Вакуумная техника. – М.: Высшая школа, 1982. ФА.Пипко, В.Я.Плисковский и др. Основы вакуумной техники – М.: Энергоиздат, 1981. Fundamentals of Vacuum Technology - Leybold vacuum products and reference book 2001/2002 ( Fundamentals of Vacuum Technology.pdf ) Праттон М. Введение в физику поверхности. – Ижевск: R&C, 2000. ( Праттон.pdf ), главы 2 и 6. К.Оура, В.Г.Лифщиц, А.А.Саранин, А.В.Зотов Введение в физику поверхности. – М.: Мир, 2006.

Изображение слайда