Презентация на тему: Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от

Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Методы определения скорости индикаторной реакции в кинетических методах анализа
Метод тангенсов
Метод фиксированного времени
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от
1/19
Средняя оценка: 4.1/5 (всего оценок: 88)
Код скопирован в буфер обмена
Скачать (4514 Кб)
1

Первый слайд презентации

Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от температуры, от различия в составах исследуемого раствора и раствора, использованного при построении градуировочного графика, состава микропримесей, вносимых с водой и реактивами. Например, в бидистиллированной воде С 0 Fe  10 -7 масс.%. Эти причины приводят к колебаниям фона. При выборе индикаторной реакции следует добиваться максимального различия в наблюдаемых константах скоростей фоновой и каталитической реакций.

Изображение слайда
2

Слайд 2: Методы определения скорости индикаторной реакции в кинетических методах анализа

Пусть для индикаторного вещества х порядок реакции n =1 по исходному А при избытке остальных реагентов. a и ( а-х ) – начальная и текущая концентрация вещества А; К= k  П с, т.к. П с =const. ( х<<а к моменту завершения реакции). Для начального участка индикаторной реакции (при х  0, a const ) : Уравнение дифференциальных методов Если a = var, то Уравнение интегральных методов

Изображение слайда
3

Слайд 3: Метод тангенсов

Пусть имеется серия стандартных растворов с концентрациями: 1. Измеряют концентрации х и  и определяют тангенс угла наклона в координатах или 2. Строят график в координатах tg (  )= f ( C 0 k ), и получают градуировочную зависимость вида : С 0 k =(  )  tg (  ) +(  )  х фон 4 1 2 3 (C 0 k ) n (tg  ) n tg  C 0 k 3. Для определяемого раствора снимаем зависимость x = f (  ) и по ( tg  ) n определяем концентрацию катализатора ( C 0 k ) n  ( C 0 k ) n

Изображение слайда
4

Слайд 4: Метод фиксированного времени

Метод фиксированной концентрации Задаются значением времени измерения  = const. Измеряют х = var. Результаты обрабатывают по уравнению х= f (С 0 k ) или Задаются значением концентрации х = const или степени превращения т.е. величиной аналитического сигнала. Измеряют  = var. Результаты обрабатывают по уравнению Достоинства и недостатки: экспрессность; простота аппаратуры; универсальность  индикаторные реакции предложены более чем для 40 элементов. необходимость строгой унификации условий анализа; сложности при переводе пробы в аналитическую форму

Изображение слайда
5

Слайд 5

Электронная микроскопия ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ, совокупность электронно-зондовых методов исследования микроструктуры твердых тел, их локального состава и микрополей (электрических, магнитных и др.) с помощью электронных микроскопов (ЭМ) - приборов, в которых для получения увеличенных изображений используют электронный пучок. Электронная микроскопия включает также методики подготовки изучаемых объектов, обработки и анализа результирующей информации. Различают два главных направления электронной микроскопии - трансмиссионную (просвечивающую) и растровую (сканирующую), основанных на использовании соответствующих типов ЭМ. Они дают качественно различную информацию об объекте исследования и часто применяются совместно. По разрешающей способности электронные микроскопы разделяют на три класса: Класс микроскопа Пространственное разрешение первый 0,2–1,5 нм (2–15 А) второй 2–3 нм (20–30 А) третий 5–15 нм (50–150 А).

Изображение слайда
6

Слайд 6

Трансмиссионная микроскопия реализуется с помощью трансмиссионных (просвечивающих) электронных микроскопов (ТЭМ), в которых тонкопленочный объект (1-3 мкм) просвечивается пучком ускоренных электронов с энергией 50-200 кэВ. Электроны, отклоненные атомами объекта на малые углы и прошедшие сквозь него с небольшими энергетическими потерями, попадают в систему магнитных линз, которые формируют на люминесцентном экране (и на фотопленке) светлопольное изображение внутренней структуры. При этом удается достичь разрешения порядка 0,1 нм, что соответствует увеличениям до 1,5  10 6 раз. Схема устройства трансмиссионного электронного микроскопа: 1 - электронная пушка; 2 - конденсор; 3 -образец; 4, 5- объектив и его диафрагма; 6, 7- промежуточная и проекционная линзы; 8 -смотровое окно; 9 - люминесцентный экран; 10 - фотокамера с затвором; 11 - вакуумная система

Изображение слайда
7

Слайд 7

В растровых электронных микроскопах (РЭМ) пучок электронов с первичной энергией ~1-10 кэВ, сжатый магнитными линзами в тонкий (1-10 нм) зонд, сканирует поверхность образца, формируя на ней растр из нескольких тысяч параллельных линий. Возникающее при электронной бомбардировке поверхности вторичные излучения (вторичная эмиссия электронов, оже-электронная эмиссия и др.) регистрируются детекторами и преобразуются в видеосигналы, модулирующие электронный луч в ЭЛТ.

Изображение слайда
8

Слайд 8

Электронные микроскопы фирмы Karl Zeiss : а)– просвечивающий; б)– растровый.

Изображение слайда
9

Слайд 9

Изображение слайда
10

Слайд 10

Современные электронно-зондовые микроанализаторы – это сложные вакуумные приборы, состоящие из электронно-оптической системы (электронная пушка и электромагнитные линзы), оптического микроскопа и устройства для сканирования распределения элементов по поверхности объекта (рентгеновский спектрометр). Рентгеновские спектрометры улавливают возникшее в образце рентгеновское излучение, а специальные приставки автоматически регистрируют интенсивность линий и все параметры процесса. Микроанализаторы ( Oxford instruments )

Изображение слайда
11

Слайд 11

Межзеренная граница в золоте на атомном уровне Микрофотография кристаллов холестерина в поляризованном свете

Изображение слайда
12

Слайд 12

Лазерная ультрамикроскопия УЛЬТРАМИКРОСКОПИЯ (от лат. ultra, греч. mikros - маленький и skopeo - смотрю) - оптический метод наблюдения и анализа коллоидных частиц в жидкой или газовой фазе с помощью ультрамикроскопов. Разработан и реализован P. Зигмонди и Г. Зидентопфом (1903), создавшими первый щелевой ультрамикроскоп. В нем исследуемая система неподвижна. Содержащая изучаемое вещество кювета освещается (с помощью системы источник света - конденсор или линза - осветитительный объектив) через прямоугольную щель, изображение которой проецируется в зону наблюдения. В окуляр наблюдатель микроскопа видны светящиеся точки, находящиеся в плоскости изображения щели. Выше и ниже освещенной зоны присутствие частиц не обнаруживается. Схема щелевого ультрамикроскопа: 1 - источник света; 2 - конденсор; 3 - оптическая щель; 4 - осветительный объектив; 5 - кювета; 6 - наблюдатель микроскопа.

Изображение слайда
13

Слайд 13

Современный комплекс лазерной ультрамикроскопиии Трехмерные флуоресцентные изображения предварительно просветленных образцов биотканей, полученные на установке для волоконно-оптической ультрамикроскопии: эмбрион мыши (слева), мозжечок взрослой мыши (справа)

Изображение слайда
14

Слайд 14

Ядерные методы анализа Радиоактивационный анализ. Источники нейтронов Горизонтальные каналы Вертикальные каналы

Изображение слайда
15

Слайд 15

Материаловедческая защитная камера

Изображение слайда
16

Слайд 16

Нейтронный источник на пироэлектрических кристаллах. Поток нейтронов 10 4 нейтронов в одном цикле нагрев-охлаждение

Изображение слайда
17

Слайд 17

Общий вид на установку Техасского петаваттного лазера, который использовался для ускорения нейтронов. Получен поток нейтронов, равный 1,1×10 18  н/(см2·с). Слева: стандартная схема генерации нейтронов. В пластиковой (CH или CD) мишени ускоряется пучок протонов или дейтронов (p+ or d+ beam), который затем посылается в образец бериллия (Be), где и происходит генерация нейтронов. Справа: расположение элементов внутри и снаружи камеры с мишенью.

Изображение слайда
18

Слайд 18

Анализаторы Альфа-спектрометры Магнитный, УСК Жидкостной сцинтилляционный бета-спектрометр Tri-Carb Бета-гамма-спектрометр LABFZN3K

Изображение слайда
19

Последний слайд презентации: Мешающий фактор – фоновая реакция. Скорость фоновой реакции зависит : от

Гамма-спектрометры Стационарные профессиональные гамма-спектрометры высокого разрешения Портативные гамма-спектрометры

Изображение слайда